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簡單介紹：
日本sentec三維立體幾何測量系統(tǒng)ODC2500 ODC2600 odc1200,遮光の原理によってターゲットの形狀測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル?インターフェースによって出力されます
詳情介紹：
日本sentec三維立體幾何測量系統(tǒng)ODC2500 ODC2600
ジオメトリック寸法測定システム | ||
ODC2500 | ||
 遮光の原理によってターゲットの形狀測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル?インターフェースによって出力されます。 | ||
ODC2600 | ||
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optoCONTROLは寸法測定のため高精度CCDを內(nèi)蔵した測定裝置です。高速応答性、**した精度とすばらしい分解能は、生産ラインにおいて移動する製品の検査において新しい水準(zhǔn)と価値を明確にします。optoCONTROL測定システムはターゲットの寸法を遮光によるエッジの位置で測ることが出來ます。様々なプログラムを選択可能で、デジタルインターフェースとアナログ出力を使用することが出來ます。 ODC1200 | ||
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高速でワークの直徑、エッジ、すき間等を測定可能